Avaliação radiográfica e espectroscópica da composição e atenuação em lápis de cor
DOI:
https://doi.org/10.33448/rsd-v14i11.50040Palavras-chave:
Uso da Radiação, Raios X, Difração de Raios X, Radiologia.Resumo
O presente estudo propõe aplicar técnicas de radiografia industrial digital na análise de lápis de cor de diferentes formulações, com o objetivo de identificar variações estruturais e composicionais associadas à atenuação dos raios X. Essa investigação busca demonstrar o potencial da radiografia industrial como ferramenta didática e científica na caracterização de materiais de baixa densidade. As imagens foram adquiridas em um sistema radiográfico Intecal MAAF, associado a um sistema de radiologia computadorizada Carestream Direct View Classic CR. As amostras foram fixadas em suporte impresso em 3D, projetado no Tinkercad. A análise de contraste radiográfico (CR) foi realizada no ImageJ, comparando regiões de interesse internas e externas dos lápis. Para complementar, efetuou-se caracterização estrutural por difração de raios X (BRUKER D2 PHASER). Os resultados evidenciaram variações significativas de atenuação entre os lápis. O marrom especiaria (IL3) apresentou valores de CR superiores em quatro das cinco caixas, sugerindo que sua formulação específica exerce impacto direto na interação com a radiação. A análise mostrou ainda heterogeneidade entre lápis da mesma cor, posteriormente confirmada e quantificada por espectroscopia. A capacidade de detectar essas diferenças em materiais de baixa densidade destaca o potencial da radiografia industrial no controle de qualidade de polímeros e compósitos. Além disso, a atenuação diferenciada do marrom especiaria aponta para possíveis aplicações como marcador radiopaco em medicina e em análises forenses ou de conservação de artefatos. Futuros trabalhos devem estabelecer relações quantitativas entre composição e atenuação, além de expandir a amostragem e considerar dados de fabricação para aprimorar estratégias de controle de qualidade.
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